關(guān)鍵詞：樣品制備

概述：為了揭示樣品的真實微觀結(jié)構(gòu)，通常必須經(jīng)過費時費力的表面處理步驟。通常樣品應(yīng)嵌入、研磨并仔細拋光。研磨和拋光程序會在樣品表面形成劃痕和塑性變形層（高達20µm）,這可能導(dǎo)致對微觀結(jié)構(gòu)的錯誤解釋。在拋光狀態(tài)下，可以在光學(xué)顯微鏡或掃描電子顯微鏡（SEM）中觀察到材料的微觀結(jié)構(gòu)，其成分在反射率或硬度上有很大差異……